A63.7069 Tungsten Filament Skanning Electron darubini, Std. SEM, 6x ~ 600000x

A63.7069 Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, Std. SEM, 6x~600000x Featured Image

Maelezo mafupi:

6x ~ 60000x Tungsten Filament Skanning Electron darubini, Std. SEM
LaB6 inayoweza kuboreshwa, Kigunduzi cha X-Ray, EBSD, CL, WDS, Mashine ya Kupaka Na Nk.
Marekebisho mengi EBL, STM, AFTM, Hatua ya Heatign, Hatua ya Cryo, Hatua ya Tensile, SEM + Laser Na Nk.
Uhalishaji wa kiotomatiki, Kugundua Mbaya kiotomatiki, Gharama ya chini kwa Kudumisha na Kutengeneza
Rahisi & Kirafiki Operesheni Interface, zote Zilizodhibitiwa na Panya katika Mfumo wa Windows
Kiwango cha chini cha utaratibu:1

Maelezo ya Bidhaa

Vitambulisho vya Bidhaa

A63.7069_01.jpg

Maelezo ya bidhaa

A63.7069 Filament ya Tungsten Inachanganua darubini ya elektroni, Std. SEM
Azimio		3nm @ 30KV (SE); 6nm @ 30KV (BSE)
Ukuzaji		Ukuzaji hasi: 6x ~ 300000x; Ukuzaji wa Skrini: 12x ~ 600000x
Bunduki ya elektroni		Tungsten Inapokanzwa Katuni ya Katuni ya Tungsten iliyowekwa katikati
Kuongeza kasi ya Voltage		0 ~ 30KV
Mfumo wa Lenzi		Lens ya Umeme wa kiwango cha tatu (Lens ya Tapered)
Ufunguzi wa Lengo		Kitundu cha Molybdenum kinachoweza kurekebishwa nje ya mfumo wa utupu
Hatua ya Mfano		Hatua ya Shoka tano
Aina ya Usafiri	X (Kiotomatiki)	0 ~ 80mm
	Y (Kiotomatiki)	0 ~ 60mm
	Z (Mwongozo)	0 ~ 50mm
	R (Mwongozo)	360º
	T (Mwongozo)	-5º ~ 90º
Kipimo cha Max Specimen		175mm
Kigunduzi		SE: Kinga ya elektroni ya Sekondari ya Utupu (na Ulinzi wa Detector)
		BSE: Semiconductor Sehemu nne za kugundua kigunduzi cha nyuma
		CCD
Marekebisho		Kuboresha kwa hatua; EBL; STM; AFM; Hatua ya kupokanzwa; Hatua ya Cryo;
Vifaa		CCD, LaB6, X-Ray Detector (EDS), EBSD, CL, WDS, Mashine ya Kupaka
Mfumo wa Utupu		Pampu za Masi za Turbo, Bomba la Mzunguko
Electron Beam ya Sasa		10pA ~ 0.1μA
PC		Kituo cha Kazi cha Dell

Faida na Kesi

Kuchunguza darubini ya elektroni (sem) inafaa kwa uchunguzi wa topografia ya uso wa metali, keramik, semiconductors, madini, biolojia, polima, utunzi na vifaa vya nano-wadogo-dimensional, mbili-dimensional na tatu-dimensional (picha ya elektroni ya pili, Picha ya elektroni iliyorudishwa nyuma) .Inaweza kutumika kuchambua sehemu, laini na sehemu za uso wa microregion.Inatumika sana katika mafuta ya petroli, jiolojia, uwanja wa madini, umeme, uwanja wa semiconductor, dawa, uwanja wa biolojia, tasnia ya kemikali, uwanja wa vifaa vya polima, uchunguzi wa jinai wa usalama wa umma, kilimo, misitu na nyanja zingine.

Habari ya Kampuni

OPTO-EDU, kama mmoja wa mtengenezaji mtaalamu na muuzaji wa darubini nchini China, safu yetu ndogo ya brand CNOPTEC safu ya mwisho ya kibaolojia, maabara, polarizing, metallurgiska, darubini za fluorescene, darubini ya uchunguzi wa uchunguzi wa CNCOMPARISON, darubini ya SEM ya mfululizo wa S63, na .49 kamera za dijiti mfululizo, kamera ya LCD ni maarufu sana katika soko la ulimwengu.