A63.7081 Schottky Uchafuzi wa Shamba Kutambaza Bunduki Kutambaza darubini ya elektroni Pro FEG SEM, 15x ~ 800000x

A63.7081 Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope Pro FEG SEM, 15x~800000x Featured Image

Maelezo mafupi:

15x ~ 800000x Schottky Shamba ya Utoaji wa Bunduki Kutambaza Darubini ya Electron
Kuongeza kasi kwa E-Beam na Picha thabiti ya Ugavi wa sasa wa Chini ya Voltage ya Chini
Sampuli isiyo ya Upitishaji Inaweza Kuzingatiwa Moja kwa Moja Hakuna Uhitaji wa Kunyunyizwa Katika Voltage ya Chini
Rahisi & Kirafiki Operesheni Interface, zote Zilizodhibitiwa na Panya katika Mfumo wa Windows
Chumba cha Mfano Kubwa na Mashoka Matano Eucentric ya Stage Ukubwa Mkubwa, Max Specimen Dia
Kiwango cha chini cha utaratibu:1

Maelezo ya Bidhaa

Vitambulisho vya Bidhaa

A63.7081_01.jpg

Maelezo ya bidhaa

A63.7081 Bunduki ya Uzalishaji wa Shamba ya Schottky Inachanganua darubini ya elektroni SEM ya Pro FEG
Azimio		1nm @ 30KV (SE); 3nm @ 1KV (SE); 2.5nm@30KV (BSE)
Ukuzaji		15x ~ 800000x
Bunduki ya elektroni		Bunduki ya Umeme ya Schottky
Electron Beam ya Sasa		10pA ~ 0.3μA
Kuharakisha Usafiri		0 ~ 30KV
Mfumo wa Utupu		Pampu 2 za Ion, pampu ya Masi ya Turbo, Pump ya Mitambo
Kigunduzi		SE: Kinga ya elektroni ya Sekondari ya Utupu (na Ulinzi wa Detector)
		BSE: Semiconductor Sehemu nne za kugundua kigunduzi cha nyuma
		CCD
Hatua ya Mfano		Axe Aus Eucentric Stage
Aina ya Usafiri	X	0 ~ 150mm
	Y	0 ~ 150mm
	Z	0 ~ 60mm
	R	360º
	T	-5º ~ 75º
Kipimo cha Max Specimen		320mm
Marekebisho		EBL; STM; AFM; Hatua ya Kukanza; Hatua ya Cryo; Hatua ya Tensile; Manipulator ya Micro-nano; SEM + Coating Machine; SEM + Laser Nk.
Vifaa		Kigunduzi cha X-Ray (EDS), EBSD, CL, WDS, Coating Machine Nk.

A63.7081_03.jpg

A63.7081_04.jpg

A63.7081_05.jpg

A63.7081_06.jpg

A63.7081_07.jpg

A63.7081_08.jpg

A63.7081_09.jpg

A63.7081_10.jpg

A63.7081_11.jpg

Faida na Kesi

Kuchunguza microscopy ya elektroni (sem) inafaa kwa uchunguzi wa topografia ya uso wa metali, keramik, semiconductors, madini, biolojia, polima, tungo na vifaa vya nano-wadogo-dimensional, mbili-dimensional na tatu-dimensional (picha ya elektroni ya pili, Picha ya elektroni iliyorudishwa nyuma) .Inaweza kutumika kuchambua sehemu, laini na sehemu za uso wa microregion.Inatumika sana katika mafuta ya petroli, jiolojia, uwanja wa madini, umeme, uwanja wa semiconductor, dawa, uwanja wa biolojia, tasnia ya kemikali, uwanja wa vifaa vya polima uchunguzi wa jinai wa usalama wa umma, kilimo, misitu na nyanja zingine.